化学分析法

• 元素分析：
  • 原子吸收光谱法（AAS）：通过测量原子对特定波长光的吸收程度来确定材料中各种元素的含量。适用于金属元素杂质的定量分析，如钢铁中的铜、铅、锌等杂质元素的测定。
  • 电感耦合等离子体发射光谱法（ICP - OES）：可同时对多种元素进行定性和定量分析，能检测出材料中痕量杂质元素，广泛应用于各类材料，如电子材料中杂质元素的检测。
  • X 射线荧光光谱法（XRF）：利用 X 射线激发样品，使样品中的元素发射出特征荧光 X 射线，从而进行元素定性和半定量分析，常用于矿石、金属材料等的杂质检测。
• 化学滴定法：通过已知浓度的试剂与被测物质发生化学反应，根据反应的化学计量关系来确定杂质的含量。例如，用酸碱滴定法测定材料中酸性或碱性杂质的含量，氧化还原滴定法测定具有氧化性或还原性杂质的含量。

物理分析法

• 金相分析：通过对材料进行金相切片，利用光学显微镜或电子显微镜观察材料的微观组织结构，能发现材料中的夹杂物、偏析等杂质情况，常用于金属材料的质量检测。
• 扫描电子显微镜 - 能谱仪（SEM - EDS）：SEM 用于观察材料的表面形貌，EDS 则可对材料表面微区进行元素分析，能直观地确定杂质的分布和成分，在材料科学研究和失效分析中应用广泛。
• X 射线衍射法（XRD）：通过分析 X 射线在材料中的衍射图案，可确定材料的晶体结构和物相组成，从而检测出材料中是否存在杂质相及其种类，常用于陶瓷、金属等材料的分析。

光谱分析法

• 红外光谱法（IR）：根据材料对红外光的吸收特性来分析其分子结构，可用于检测有机材料中的杂质，如聚合物材料中残留的单体、添加剂等杂质的定性分析。
• 紫外 - 可见吸收光谱法（UV - Vis）：通过测量材料对紫外 - 可见光的吸收情况，可对一些具有发色团的杂质进行定性和定量分析，常用于无机化合物和有机化合物的杂质检测，如水中的重金属离子、有机染料等。

质谱分析法

• 气相色谱 - 质谱联用（GC - MS）：适用于挥发性有机化合物的分析，先通过气相色谱将混合物分离成单个组分，然后用质谱仪对每个组分进行定性和定量分析，可检测材料中微量的有机杂质，如塑料中的挥发性有机物、食品中的农药残留等。
• 电感耦合等离子体质谱法（ICP - MS）：能对材料中的痕量和超痕量元素进行精确分析，尤其适用于检测具有复杂基体的材料中的杂质元素，如生物样品、环境样品中的重金属杂质。